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谷物品质图像分析系统
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产品名称:
谷物品质图像分析系统
产品型号:
GE-XP
产品展商:
杭州大吉光电仪器有限公司
关注指数:2422
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GE-XP谷物品质图像分析系统应用图像自动分析系统测定谷物杂质和不完善粒的检测设备。适用于各类谷物的检测。该系统集计算机技术与图像处理技术于一体，通过CCD摄像机、进料机构、驱动机构和出料机构以及图像自动采集系统
谷物品质图像分析系统
的详细介绍
GE-XP谷物品质图像分析系统应用图像自动分析系统测定谷物杂质和不完善粒的检测设备。适用于各类谷物的检测。该系统集计算机技术与图像处理技术于一体，通过CCD摄像机、进料机构、驱动机构和出料机构以及图像自动采集系统，经图像处理和BP神经网络的分类算法，达到对于标准麦、破损麦和异种粮霉变粮的自动识别。
主要性能指标：
1. 稻谷：未熟粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%
2. 小麦：破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%
3. 玉米：破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒、热损伤粒。识别准确率≥95%
4. 大米：垩白粒率、粒型、黄粒米、垩白度。识别准确率≥95%
